| 国家标准或国家军标 |
等同、等效或参照 IEC 或美国军标 |
| GB 2423.1: 试验 A :低温试验方法 |
IEC 68-2-1: 试验 A :寒冷 |
| GB 2423.16: 试验 J :长霉试验方法 |
IEC 68-2-10: 试验 J :长霉 |
| GB 2423.2: 试验 B :高温试验方法 |
IEC 68-2-2: 试验 B :干热 |
| GB 2423.21: 试验 M :低气压试验方法 |
IEC 68-2-13: 试验 M :低气压 |
| GB 2423.22: 试验 Na :温度变化试验方法(规定转换时间的快速温度变化试验) |
IEC 68-2-14: 试验 N :温度变化 |
| GB/T 2423.17: 试验 Ka :盐雾试验方法 |
IEC 68-2-11: 试验 Ka :盐雾试验方法 |
| GB/T 2423.25: 试验 Z/AM :低温 / 低气压综合试验 |
IEC 68-2-40: 试验 Z/AM 低温 / 低气压综合试验 |
| GB/T 2423.26: 试验 Z/BM :高温 / 低气压综合试验 |
IEC 68-2-41: 试验 Z/BM 高温 / 低气压试验 |
| GB/T 2423.3: 试验 Ca :恒定湿热试验方法 |
IEC 68-2-3: 试验 Ca :恒定湿热 |
| GB/T 2423.4: 试验 Db :交变湿热试验方法 |
IEC 68-2-30: 试验 Db 及导则:交变湿热( 12+12h 循环) |
| GJB 1032: 电子产品环境应力筛选方法 |
MIL-STD-2164: 电子设备环境应力筛选方法 |
| GJB 150.10: 霉菌试验 |
MIL-STD-810D: 方法 508.3 霉菌 |
| GJB 150.16: 振动试验 |
MIL-STD-810D: 方法 514.3 振动 |
| GJB 150.2: 低气压(高度)试验 |
MIL-STD-810D: 方法 500.2 低压(高度) |
| GJB 150.24: 温度 - 湿度 - 振动 - 高度试验 |
MIL-STD-810D: 方法 520.0 温度、湿度、振动、高度 |
| GJB 150.3: 高温试验 |
MIL-STD-810D: 方法 501.2 高温 |
| GJB 150.4: 低温试验 |
MIL-STD-810D: 方法 502.2 低温 |
| GJB 150.5: 温度冲击试验 |
MIL-STD-810D: 方法 503.2 温度冲击 |
| GJB 150.7: 太阳辐射试验 |
MIL-STD-810D: 方法 505.2 太阳辐射(日照) |
| GJB 150.8: 淋雨试验 |
MIL-STD-810D: 方法 506.2 淋雨 |
| GJB 150.9: 湿热试验 |
MIL-STD-810D: 方法 507.2 湿热 |
